SJT 10415-1993 晶体管热敏参数快速筛选试验方法
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0.08 |
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3 |
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日期： |
2010-4-11 |
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吕J,中华人民共和国电子行业标准,sJ/T 10415-93,晶.体管热敏参数快速筛选试验方法,Ra pi d screeningt estm ethodsf or,thermal触nsitive parameter of transistor,1993-12-17发布1994-06-01实施,二二二二一二二一‘一-一一一一一--一书一--,公,中华人民共和国电子工业部发布,中华人民共和国电子行业标准,晶体管热敏参数快速筛选试验方法,Ra pid screening testm ethodsf or,thermel sensitive parameter of transistor,sJ/T 10415-93,主题内容与适用范围,本 标 准 规定了晶体管热敏参数快速筛选试验方法。适用于:,1.1 剔除易产生早期失效的晶体管，改善产品批的质量和可靠性,1.2 Ail试被试管承受一定脉冲功率前后的热敏参数IC-(或ICI )V n。和hFE 等值，以其变化,量或变化率预测被试管的热稳定性,1.3 模拟被试管实际使用时可能出现的浪涌电压、浪涌电流等条件施加应力，以考核被试管,承受冲击的能力,1.4 估计被试管热阻大小和范围,试验设备,本 试 验 所需设备应具有以};功能:,2.1 能按规定对被试管施加一个电压、电流、脉宽可调的功率脉冲,2.2 在施加功率脉冲的前后，均能测试被试管的Iceo (或Ic- ). V,:和hF;等热敏参数;热敏,参数的测试条件应能预先设定;施加功率脉冲结束至对热敏参数第二次采样的时间间隔和第,二次采样时间应足够短，以尽可能减小由于结温下降影响热敏参数的测试结果，并具有良好的,重复性,2.3 应具有足够的热敏参数测试量程和精度等,2.4 根据被试管设定的失效判据，具有失效报警、自动数据处理并显示和打印等功能,2. 5 当被试管由于穿通、施加功率脉冲发生二次击穿或热击穿时应具有自保护能力,试验步骤,3.1 确定施加条件。例如环境温度，功率脉冲的电压、电流及持续时间，热敏参数的测试条件,等,~ 一、‘，‘.，， 二‘，。_ 、。二_、. _ _ _ _ 一h二二1一h二二，} 3. 2 确定失效判据。失效判据参量一般为IcFOP几、)、OVFF和上竺旦旦一竺丛玉旦100%;其中,’‘一 ’ ‘一 ““ /、卜“钊一~ ‘卜尹“一、肠沙‘一句~一”一rn，一hFFl -一/“’林’,人二、:、乓。为加功率脉冲后的It,值、人二值，hF,_方加功率脉冲前h二值。_,3.3 插入被试管，启动试验设备,中华人民共和国电子工业部1993-12 17批准1994-06-01实施,S.I/'r 10415--93,3. 4 按顺序进行IcF(7(或人、，、Vnet、 hee，测试，施加功率脉冲后立即进行Ic-z(或Icnoz)、,V FE,hFF2测试.其中ICE, V- hF;为加功率脉冲前的Iceo,V nE,hF;值，V-:为加功率脉冲后,V丽值,35 进行数据处理和打印,规定条件,环境温度、湿度和管壳温度(若不同于环境温度时),功率脉冲的电压、电流及脉冲持续时间,V,;的测试电流If , hFE的测试电流I。和电压VCE,ICEO(或Icro)的测试反偏电压V CF.,4.1们43 (或,Vcn),4.4 有关失效判据如ICE02(或ICtf02) ,OVtf;及衍:的相对变化率,5 注意事项,Ih .,一hFF2,h-,"100%.,5. 1 功率脉冲的前沿、后沿过渡时临不对加温过程产生不良影响,5.2 功率脉冲结束瞬间至热钞多数第二次采样结束瞬间之间的时间间隔不对测试结果产生,不良影响,5.3 功率脉冲的电压值不得超过被试管规定的正偏直流安全工作区所确定的减功率点的电,压俏功率脉冲的电流值不得超过被试管集电极最大脉冲电流值。施加功率脉冲后在最高结温,点(#I,温度不得芯过被试管的最高结温额定值，以免引入新的失效机理,5:4 试验初始时刻( 二c.. ` ,除另有规定外，被试管的结温等于环境温度,5-5集 电#bf1')A A q 的内阻噢灯VICe} -} ,附加说明:,本标准山电一F工业部标准化研究所归口,本标准主要起草人:鲁虔、蔡仁明、叶奇放……
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